FEI start met de verzending van Titan (TM) S/TEM, de meest geavanceerde elektronenmicroscoop ter wereld

01 Aug, 2005, 14:00 BST Van FEI Company

HILLSBORO, Oregon, August 1 /PRNewswire/ --

- Onderzoekers gaan de meest geavanceerde commerciële elektronenmicroscoop ter wereld gebruiken voor toonaangevend nanotechnologisch onderzoek en toonaangevende nanotechnologische ontwikkelingen.

FEI heeft vandaag bij de introductie van het nieuwe systeem op het Microscopie en Microanalyse Congres van 2005 in Honolulu aangekondigd dat ze zijn begonnen met het verzenden van hun nieuwe scanning/transmissie elektronenmicroscoop (S/TEM), de Titan (TM) 80-300. Met een geheel nieuw besturingssysteem gericht op correctie en monochromator technologie, is het S/TEM systeem van Titan de commerciële microscoop met de hoogste resolutie ter wereld, waarmee effectieve sub-Ångström beeldvorming en analyse mogelijk is. Het zorgt ervoor dat de microscopie zich verder kan ontwikkelen tot een niveau waarop nieuwe ontdekkingen op het gebied van de relatie tussen structuur en eigenschappen van functionele materialen mogelijk worden. De klanten die de Titan onder een geheimhoudingsovereenkomst al hebben gezien en besteld, zullen de eersten zijn die het nieuwe systeem ontvangen.

'De Titan is een belangrijke doorbraak in het tijdperk van de nanotechnologie die onze afwisselende klantenkring een stevige basis biedt voor verdere innovatie en vercommercialisering. Dit nieuwe systeem is het krachtigste onderdeel van de productgroep ultrahoge S/TEM resolutie en gefocusseerde ionenbundel (FIB) technologieën van FEI, die hulpmiddelen bieden voor onderzoekers, ontwikkelaars en producenten die grotere toegankelijkheid tot de nanodimensie zoeken' lichtte Vahe Sarkissian, voorzitter en algemeen directeur van FEI, toe. 'Als wereldmarktleider op het gebied van de levering van Tools for Nanotech (TM) is FEI er trots op dat zij deze toonaangevende technologie op de markt kunnen brengen.'

De eerste zendingen van de Titan 80-300 S/TEM zullen in het huidige fiscale kwartaal plaatsvinden. Onder de eerste klanten die op de lijst voor leveringen staan zijn het Center for Accelerated Maturation of Materials van de Ohio State University (VS), Department of Inorganic Chemistry and Catalysis van het Fritz-Haber Instituut (Duitsland), Samsung Advanced Institute of Technology (Korea), en Instituto Mexicano del Petroleo/IMP (Mexico).

Het toepassingsgerichte besturingssysteem van Titan voor corrector en monchromator technologieën en hun toepassingen is ontworpen met het oog op een hoge mate van automatisering en biedt maximale stabiliteit, prestatie en flexibiliteit. De microscoop brengt informatie diep in sub-Ångström resolutie over waardoor het hoogste resultaat voor zowel transmissie elektronenmicroscopie als scanning transmissie elektronenmicroscopie mogelijk wordt. Het feit dat het ontwerp in diverse uitvoeringen beschikbaar is, zorgt ervoor dat niet alleen grotere nationale onderzoekscentra en centra voor nanotechnologisch onderzoek zich toepassingsgerichte voor aberraties gecorrigeerde TEM technologie kunnen veroorloven. Het opent deuren voor universiteiten en bedrijven met gefaseerde financiering om met het ook gop de toekomst een plaats voor zichzelf veilig te stellen.

Tegenwoordig vindt de meeste ultrahoge resolutie microscopie plaats tussen één en twee Ångström. Het is echter zo dat materialen onder één Ångström ander gedrag en andere kenmerken laten zien. Uitgerust met de sub-Ångström beeldvorming van de Titan hebben wetenschappers een veel grotere mogelijkheid om materialen te observeren en karakteriseren.

FEI's verzending van de Titan S/TEM is een belangrijke mijlpaal voor de leiderspositie op het gebied van de levering van 's werelds krachtigste hulpmiddelen voor de nanotechnologie. In een persbericht uit november 2004, kondigde FEI aan dat ze geselecteerd waren als de R&D partner voor een onderzoeksprogramma gericht op het maken van een scanning/transmissie elektronenmicroscoop (S/TEM) met de hoogste resolutie ter wereld. Het programma wordt geleid door diverse regionale Amerikaanse laboratoria die zich hebben verenigd om het TEAM project te vormen. Dit meerjarige microscopie ontwikkelingsproject streeft naar een nieuwe microscoop, gebaseerd op het Titan besturingssysteem, die buitengewone nieuwe wetenschappelijke mogelijkheden voor directe observatie gericht op het mogelijk maken van analyse van individuele nanostructuren met een nooit eerder voorgekomen resolutie van 0,5 Ångström biedt - circa eenderde van de grootte van een koolstofatoom.

Op het Microscopie en Microanalyse congres kondigde FEI ook de komst van nieuwe software, hardware en accessoires aan voor zijn bekroonde Tecnai (TM) G2 TEM serie, die gericht is op díe applicaties waarvoor niet het volgende niveau van voor aberratie gecorrigeerde resolutie nodig is. Sinds de introductie in 1998 zijn er wereldwijd meer dan 500 Tecnai TEMs geïnstalleerd binnen alle markten die FEI bedient: NanoBiologie, NanoOnderzoek en NanoElektronica.

Over FEI

FEI's Tools for Nanotech(TM), die zich richten op gefocusseerde ionen- en elektronenbundel technologieën, bieden 3D mogelijkheden op het gebied van karakterisering, analyse en modificatie met resoluties onder het sub-Ångström niveau. Met R&D centra in Noord-Amerika en Europa en verkoop- en serviceactiviteiten in wereldwijd meer dan 40 landen, brengt FEI de nanodimensie binnen het bereik van toonaangevende onderzoekers en fabrikanten, en helpen ze om enkele van de grootste ideeën van deze eeuw te verwezenlijken. Voor meer informatie kunt u verder lezen op de website van FEI: http://www.feicompany.com.

In dit persbericht worden op de toekomst gerichte statements gedaan, waaronder statements over toekomstige productiecapaciteit en een geavanceerd ontwikkelingsprogramma dat al besproken werd in het persbericht van november 2004. Factoren die van invloed kunnen zijn op deze op de toekomst gerichte statements omvatten maar zijn niet beperkt tot: het onvermogen van FEI, hun leveranciers of projectpartners om de technologische vooruitgang te boeken die nodig is om de beschreven capaciteit te bereiken of om het beschreven project te voltooien; veranderingen aan of annulering van het beschreven project; problemen die zich voordoen tijdens de uitvoering van het project of de productontwikkeling die voor vertraging zorgen of ervoor zorgen dat de resultaten afwijken van de verwachte resultaten; onvoorziene technologische uitdagingen; en nalatigheid van een belangrijke leverancier of projectpartner, vertragingen in projectfinanciering of vraag van de klant die op hun beurt weer voor vertraagde ontwikkeling zorgen. Raadpleegt u alstublieft ook ons Formulier 10-K, Formulieren 10-Q en andere documenten bij de Amerikaanse Commissie van Toezicht op het Effecten- en Beurswezen (Securities and Exchange Commission) voor aanvullende informatie over deze factoren en andere factoren die er de oorzaak van kunnen zijn dat de daadwerkelijke resultaten wezenlijk verschillen van de op de toekomst gerichte statements. FEI ziet af van de verplichting om op de toekomst gerichte statements bij te werken.

Website: http://www.feicompany.com

BRON FEI Company