Sony lanzará el sensor CMOS de rayos X con el rendimiento de imágenes más rápido y bajo ruido

-Sony Semiconductor Solutions lanzará el sensor CMOS de rayos X con el rendimiento de imágenes más rápido y bajo ruido*¹ de la industria para instrumentación de inspección y medición

Mediciones de energía de alta precisión y adquisición de datos a nivel de fotones en un solo chip

ATSUGI, Japón, 9 de junio de 2026 /PRNewswire/ -- Sony Semiconductor Solutions Corporation (Sony) anunció hoy el próximo lanzamiento, producción en masa y envío del sensor de imagen CMOS de rayos X con integración de carga de conversión directa IMX711.

El IMX711 es un sensor de imagen de rayos X para instrumentación de inspección y medición que detecta directamente rayos X y emite señales proporcionales a su energía. El nuevo sensor ofrece la imagen de alta velocidad máxima de 26,100 fps más rápida^*1 de la industria, lograda gracias a la tecnología de circuito patentada de Sony, que suprime la saturación de carga para mediciones precisas. También reduce significativamente el ruido para permitir una mayor precisión de detección de señales en condiciones de bajo flujo, detectando diferencias en la energía de los fotones. Proporciona mediciones de alta precisión de energía de rayos X integrada en un amplio rango dinámico y adquisición de información energética a nivel de fotones en un solo sensor, una hazaña que ha sido difícil con los sensores convencionales. Esta característica única contribuirá al avance y la diversificación de las tecnologías de medición e inspección por rayos X, que se utilizan en una amplia variedad de aplicaciones, desde la inspección de dispositivos de última generación hasta mediciones científicas.

*¹Entre los sensores de imagen CMOS de rayos X con integración de carga. Según la investigación de Sony (a partir del anuncio el 9 de junio de 2026).

Ejemplos de aplicaciones potenciales 

• Mejora de la precisión y el rendimiento en la inspección de alta velocidad de objetos en movimiento para aplicaciones de baterías y semiconductores
• Mapeo elemental para distinguir fotones de diferentes niveles de energía y representar una distribución bidimensional
• Medición simultánea de análisis de estructuras cristalinas y análisis de elementos utilizando información de energía fotónica e información espacial.

Principales características

•  Mediciones de alta precisión en un amplio rango dinámico gracias a la generación de imágenes con bajo ruido, *1 más rápida de la industria^*1

Este producto alcanza la velocidad de cuadros máxima más rápida^*1 de la industria de 26,100 fps gracias a la tecnología de circuito patentada de Sony. Reducir la cantidad de carga acumulada por cuadro permite características de saturación superiores en comparación con los sensores convencionales. Al mismo tiempo, el ruido aleatorio, que supone un desafío técnico para los sensores de integración de carga, se ha reducido a 34 e-rms^*3 para que incluso las señales de rayos X más débiles no queden oscurecidas por el ruido y puedan detectarse de forma fiable. Esto mejora la precisión de la medición en condiciones de bajo flujo y ofrece detección del nivel de fotones. Estas características permiten una medición precisa de la energía de rayos X integrada para todos los píxeles en condiciones de flujo bajo a alto, lo que respalda la inspección y medición con diferencias significativas en el brillo en un solo sensor, contribuyendo a mejorar el rendimiento del dispositivo y un rango dinámico ampliado.

*3 Un resultado de evaluación. Este resultado se calcula en función del valor promedio de píxeles en el área efectiva del sensor en un entorno donde la temperatura de funcionamiento interna del sensor es igual o inferior a 20 ℃. El valor funcional garantizado es de 60 e-rms.

• Alta resolución energética que permite la inspección y medición utilizando energía de fotones

El nuevo sensor utiliza el método de integración de carga, que permite adquirir información sobre la energía de los fotones sin necesidad de establecer un umbral por adelantado. Además, el ruido y la variación de la señal se suprimen durante la lectura para lograr una alta resolución de energía para una identificación clara de las diferencias en la energía de los fotones. Permitir la adquisición de datos altamente confiables a través de una resolución de alta energía contribuirá a agilizar y mejorar la precisión en la inspección y medición avanzadas, que anteriormente requerían varias mediciones en aplicaciones como la detección de diferencias en elementos constituyentes a nivel de elemento y el análisis estructural y de materiales para evaluar cuantitativamente cambios de estado minúsculos. También permite el posprocesamiento en diversas condiciones, como recopilar los datos de medición de todos los píxeles, combinarlos con información espacial y extraer datos energéticos específicos, lo que contribuye a la inspección y medición multifuncionales.

El IMX711 fue desarrollado con la colaboración entre Sony Semiconductor Solutions Corporation y RIKEN. Basándose en una estructura de píxeles inventada por el doctor Takaki Hatsui de RIKEN, las dos partes trabajaron juntas en el desarrollo tecnológico necesario para hacerlo viable como un sensor de imagen de rayos X práctico, incluida la mejora de la sensibilidad y el logro de una alta resistencia a la irradiación de rayos X y una tolerancia al alto voltaje. Sony desarrolló su tecnología de circuitos, procesos de fabricación y tecnología de embalaje para la producción en masa.

Enlace relacionado
Página del producto IMX711: https://www.sony-semicon.com/en/products/is/scientific/x-ray.html

Consulte el sitio web oficial para conocer las especificaciones y otros detalles. https://www.sony-semicon.com/en/news/2026/2026060901.html 

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