Sony Semiconductor Solutions lance un capteur CMOS à rayons X offrant l'imagerie la plus rapide*¹ de l'industrie et un faible niveau de bruit pour l'instrumentation d'inspection et de mesure

Mesures d'énergie de haute précision et acquisition de données au niveau des photons sur une seule puce

ATSUGI, Japon, 9 juin 2026 /PRNewswire/ -- Sony Semiconductor Solutions Corporation (Sony) a annoncé aujourd'hui le lancement prochain, la production en masse et la livraison du capteur d'image CMOS IMX711 à conversion directe et à intégration de rayons X .

L'IMX711 est un capteur d'images à rayons X destiné aux instruments d'inspection et de mesure. Il détecte directement les rayons X et émet des signaux proportionnels à leur énergie. Le nouveau capteur offre l'image à grande vitesse la plus rapide de l'industrie^*1 avec un maximum de 26 100 images par seconde, grâce à la technologie de circuit exclusive de Sony, qui supprime la saturation des charges pour des mesures précises. Le capteur réduit également de manière significative le bruit afin d'améliorer la précision de la détection du signal dans des conditions de faible flux, en détectant les différences d'énergie des photons. Il permet, à la fois, de mesurer avec une grande précision l'énergie intégrée des rayons X dans une large plage dynamique et d'acquérir des informations sur l'énergie au niveau des photons sur un seul capteur, ce qui était difficile avec les capteurs conventionnels. Cette caractéristique unique va permettre d'améliorer et de diversifier les technologies d'inspection et de mesure par rayons X, qui sont utilisées dans un large éventail d'applications, de l'inspection d'appareils de pointe aux mesures scientifiques.

*1Parmi les capteurs d'images CMOS à rayons X à intégration de charge. Selon les recherches de Sony (à la date de l'annonce du 9 juin 2026).

Exemples d'applications potentielles 

• Amélioration de la précision et du débit dans l'inspection à grande vitesse d'objets en mouvement pour les applications de batteries et de semi-conducteurs.
• Cartographie élémentaire permettant de distinguer les photons de différents niveaux d'énergie et d'en restituer la distribution bidimensionnelle.
• Mesure simultanée de l'analyse de la structure cristalline et de l'analyse des éléments à l'aide d'informations sur l'énergie des photons et d'informations spatiales.

Caractéristiques principales

• Mesures de haute précision dans une large plage dynamique grâce à l'imagerie à faible bruit la plus rapide de l'industrie^*1

Ce produit atteint la fréquence d'images maximale de 26 100 images/seconde ^*1 la plus rapide de l'industrie grâce à la technologie de circuit exclusive de Sony. La réduction de la quantité de charge accumulée par image permet d'obtenir des caractéristiques de saturation supérieures par rapport aux capteurs conventionnels. Par ailleurs, le bruit aléatoire, qui constitue un défi technique pour les capteurs à intégration de charge, a été réduit à 34 e-rms^*3, de sorte que même les faibles signaux de rayons X ne sont pas obscurcis par le bruit et peuvent être détectés de manière fiable. Cela permet d'améliorer la précision des mesures dans des conditions de faible flux, en offrant une détection du niveau de photons. Ces caractéristiques permettent de mesurer avec précision l'énergie intégrée des rayons X pour tous les pixels dans des conditions de faible ou de fort flux, ce qui permet d'inspecter et de mesurer des différences significatives de luminosité sur un seul capteur, contribuant ainsi à améliorer le rendement de l'appareil et à élargir la plage dynamique.

• Résolution énergétique élevée permettant l'inspection et la mesure à l'aide de l'énergie des photons

Le nouveau capteur utilise la méthode d'intégration de charge, qui permet d'acquérir des informations sur l'énergie des photons sans qu'il soit nécessaire de déterminer un seuil à l'avance. En outre, le bruit et la variation du signal sont supprimés pendant la lecture afin d'obtenir une résolution énergétique élevée permettant d'identifier clairement les différences d'énergie des photons. L'acquisition de données très fiables grâce à une résolution énergétique élevée contribue à rationaliser et à améliorer la précision des inspections et des mesures avancées, qui nécessitaient auparavant plusieurs mesures dans des applications telles que la détection des différences entre les éléments constitutifs au niveau de l'élément et l'analyse structurelle et matérielle afin d'évaluer quantitativement les changements d'état minimes. Cela permet également un post-traitement dans diverses conditions, comme la collecte des données de mesure pour tous les pixels, leur combinaison avec des informations spatiales et l'extraction de données énergétiques spécifiques, ce qui contribue à l'inspection et à la mesure multifonctionnelles.

L'IMX711 a été développé en collaboration avec Sony Semiconductor Solutions Corporation et RIKEN. À partir d'une structure de pixels inventée par le Dr Takaki Hatsui du RIKEN, les deux parties ont collaboré pour le développement technologique nécessaire pour en faire un capteur d'images à rayons X pratique, notamment en améliorant la sensibilité et en obtenant une résistance élevée aux rayons X et une tolérance à la haute tension. Sony a développé sa propre technologie des circuits, ses processus de fabrication et sa technologie d'emballage pour la production de masse.

Lien connexe
page produit IMX711 : https://www.sony-semicon.com/en/products/is/scientific/x-ray.html

Veuillez consulter le site officiel pour les spécifications et d'autres détails.
https://www.sony-semicon.com/en/news/2026/2026060901.html 

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