Park Systems bringt den Park FX40 IR auf den Markt, der die volle AFM-Leistung und nanoskalige IR-Spektroskopie in einer einzigen automatisierten Plattform vereint
GWACHEON, Südkorea, 1. Juni 2026 /PRNewswire/ -- Park Systems Corp., der weltweit führende Anbieter von Lösungen für die Rasterkraftmikroskopie (AFM) und die Messtechnik im Nanobereich, gab heute die Markteinführung des Park FX40 IR bekannt, womit das Portfolio des Unternehmens an Nano-IR-Spektrometern um eine Plattform für kleine Proben ergänzt wird. Mit dem FX40 IR können Forscher gleichzeitig chemische IR-Daten im Nanobereich und die Oberflächentopografie von Proben mit einer Größe von bis zu 20 mm × 20 mm erfassen und so die molekulare Zusammensetzung mit einer räumlichen Auflösung von unter 5 nm ohne Oberflächenkontakt bestimmen. Der FX40 IR folgt auf die Markteinführung des FX200 IR und des FX300 IR im Jahr 2025, mit denen die nanoskalige IR-Spektroskopie für Konfigurationen mit großen Proben und im gesamten Wafer-Maßstab eingeführt wurde, und erweitert diese Möglichkeiten nun auf die Forschung mit kleinen Proben.
Das FX40 IR basiert auf dem Park FX40 – dem weltweit ersten vollautomatischen AFM für Forschungszwecke, das Robotik und intelligente Automatisierung vereint, um jeden Schritt der Messung zu übernehmen, vom Sondenwechsel über die Strahlaufrichtung bis hin zur Annäherung an die Spitze und der Bildaufnahme. Der FX40 zeichnet sich durch einen niedrigen Rauschpegel, minimale thermische Drift und verbesserte mechanische Stabilität aus, was auf sein überlegenes mechanisches FX-Design zurückzuführen ist, bei dem das optische Mikroskop vom Z-Tisch entkoppelt ist, um die Anfälligkeit für mechanische Störungen zu verringern. Das FX40 IR erweitert diese Plattform um Funktionen der nanoskaligen IR-Spektroskopie und ermöglicht so die gleichzeitige Erfassung molekularer chemischer Informationen und der Oberflächentopografie in einem einzigen Messdurchlauf.
Die chemische Charakterisierung im Nanobereich mit dem FX40 IR erfolgt mittels photoinduzierter Kraftmikroskopie (PiFM), bei der die photoinduzierte Kraft zwischen dem AFM-Cantilever und der Probe erfasst wird, um molekulare Schwingungen ohne Oberflächenkontakt abzubilden. Dieser berührungslose Detektionsansatz erreicht eine räumliche Auflösung von unter 5 nm – und übertrifft damit die optische Beugungsgrenze von etwa 10 µm bei der herkömmlichen Fourier-Transform-IR-Spektroskopie (FT-IR) sowie die Auflösung von 10–20 nm bei kontaktbasierten photothermischen Verfahren –, während er gleichzeitig Probenbeschädigungen und eine Kontamination der Messspitze verhindert, wie sie bei kontaktbasierten Methoden unvermeidlich sind. Die vom FX40 IR erfassten IR-Spektren im Nanobereich stimmen hinsichtlich der Peakpositionen und der relativen Bandenprofile weitgehend mit herkömmlichen FT-IR-Ergebnissen überein und bieten Forschern, die mit der IR-Charakterisierung von Volumenproben vertraut sind, einen bekannten Bezugspunkt.
„Das FX40 IR ist nicht nur ein einfaches Zusatzspektrometer – es ist eine komplette AFM-Plattform mit vollständig integrierter IR-Fähigkeit im Nanobereich. Als Ergänzung der FX-IR-Serie bedeutet dies, dass unsere Kunden nun mit derselben Präzision, demselben Arbeitsablauf und demselben Automatisierungsgrad arbeiten können, unabhängig davon, ob ihre Probe in einen Chip-Träger passt oder sich über einen ganzen Wafer erstreckt", sagte Dr. Sang-joon Cho, Executive Vice President und Leiter des Geschäftsbereichs Forschungsausrüstung bei Park Systems.
Park Systems führt außerdem einen gestaffelten Erfassungspfad für das FX40 IR ein. Laboratorien können das FX40 IR in einer aufrüstbaren Konfiguration erwerben – ein voll funktionsfähiges FX40-AFM, das für eine spätere IR-Integration vorkonfiguriert ist, einschließlich der Schallschutzhaube – und das IR-Modul später hinzufügen, wenn der Bedarf an chemischen Analysen steigt. Dieser Ansatz ermöglicht es Forschungsgruppen, zunächst in ein automatisiertes AFM von Weltklasse zu investieren und anschließend ohne Neuanschaffung in die nanoskalige IR-Spektroskopie zu expandieren.
Weitere Informationen zum Park FX40 IR finden Sie unter www.parksystems.com/en/products/research-afm/small-sample-afm/fx40-ir.
Informationen zu Park Systems
Park Systems ist ein weltweit führendes Unternehmen im Bereich der Nanometrologie und bietet fortschrittliche Messlösungen sowohl für Forschungs- als auch für industrielle Anwendungen an. Das Unternehmen wurde von Dr. Sang-il Park gegründet, der an der Erfindung der Rasterkraftmikroskopie (AFM) an der Stanford University mitgewirkt hat. Durch kontinuierliche Innovation und strategische Übernahmen hat sich das Unternehmen zu einer führenden Kraft in der globalen Nanometrologie-Branche entwickelt. Das Technologieportfolio von Park Systems umfasst AFM, Weißlichtinterferometrie (WLI), digitale holografische Mikroskopie (DHM), bildgebende spektroskopische Ellipsometrie (ISE), aktive Schwingungsisolationssysteme und Massivmetallspitzen. Mit Niederlassungen in Nord- und Südamerika, Europa und Asien unterstützt Park Systems Kunden in den Bereichen Halbleiterfertigung, Materialwissenschaften und Nanotechnologieforschung.
Weitere Informationen finden Sie unter www.parksystems.com
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