Park Systems lance le Park FX40 IR, qui réunit les performances complètes de l'AFM et la spectroscopie IR à l'échelle nanométrique dans une plateforme automatisée

GWACHEON, Corée du Sud, 1er juin 2026 /PRNewswire/ -- Park Systems Corp, premier fournisseur mondial de solutions de microscopie à force atomique (AFM) et de métrologie à l'échelle nanométrique, annonce aujourd'hui le lancement commercial du Park FX40 IR, qui complète la gamme de spectromètres Nano-IR de l'entreprise avec une plateforme de petits échantillons. Le FX40 IR permet aux chercheurs d'acquérir simultanément des informations chimiques IR à l'échelle nanométrique et une topographie de surface sur des échantillons allant jusqu'à 20 mm × 20 mm, en identifiant la composition moléculaire avec une résolution spatiale inférieure à 5 nm sans contact avec la surface. Le FX40 IR fait suite au lancement en 2025 des FX200 IR et FX300 IR, qui ont introduit la spectroscopie IR à l'échelle nanométrique dans les configurations à grande échelle et à l'échelle de la plaquette complète, et étend la même capacité à la recherche sur les petits échantillons.

Le FX40 IR est basé sur le Park FX40, le premier AFM de niveau recherche entièrement automatisé au monde, qui intègre la robotique et l'automatisation intelligente pour gérer chaque étape de la mesure, depuis le changement de sonde et l'alignement du faisceau jusqu'à l'approche de la pointe et l'acquisition de l'image. Le FX40 offre un faible niveau de bruit, une dérive thermique minimale et une stabilité mécanique accrue grâce à sa conception mécanique FX supérieure, dans laquelle le microscope optique est découplé de la platine Z afin de réduire la sensibilité aux perturbations mécaniques. Le FX40 IR étend cette plateforme avec une capacité de spectroscopie IR à l'échelle nanométrique, permettant l'acquisition simultanée d'informations chimiques moléculaires et de topographie de surface en une seule session de mesure.

La caractérisation chimique IR à l'échelle nanométrique sur le FX40 IR est réalisée grâce à la microscopie à force photo-induite (PiFM), qui détecte la force photo-induite entre le cantilever AFM et l'échantillon pour cartographier les vibrations moléculaires sans contact avec la surface. Cette approche de détection sans contact permet d'obtenir une résolution spatiale inférieure à 5 nm, dépassant la limite de diffraction optique de ~10 µm de la spectroscopie IR à transformée de Fourier conventionnelle (FT-IR) et la résolution de 10-20 nm des techniques photothermiques basées sur le contact, tout en éliminant les dommages à l'échantillon et la contamination des pointes inhérents aux méthodes en mode contact. Les spectres IR à l'échelle nanométrique acquis par le FX40 IR montrent un accord étroit avec les résultats FT-IR conventionnels en ce qui concerne les positions des pics et les profils relatifs des bandes, fournissant un point de référence familier pour les chercheurs expérimentés dans la caractérisation IR en vrac.

« Le FX40 IR n'est pas un simple spectromètre supplémentaire, c'est une plateforme AFM complète avec une capacité IR à l'échelle nanométrique entièrement intégrée. En complétant la série FX IR, cela signifie que nos clients peuvent désormais travailler avec la même précision, le même flux de travail et le même niveau d'automatisation, que leur échantillon tienne dans un support de puce ou qu'il couvre une plaquette entière », déclare Sang-joon Cho, vice-président exécutif et responsable de l'unité commerciale des équipements de recherche chez Park Systems.

Park Systems introduit également une voie d'acquisition progressive pour le FX40 IR. Les laboratoires peuvent acheter le FX40 IR pour une configuration évolutive, un AFM FX40 entièrement fonctionnel préconfiguré pour une future intégration IR, y compris le boîtier acoustique, et ajouter par la suite le module IR au fur et à mesure de l'évolution des besoins en matière d'analyse chimique. Cette approche permet aux groupes de recherche de faire un investissement initial dans un AFM automatisé de classe mondiale et d'étendre leurs activités à la spectroscopie IR à l'échelle nanométrique sans remplacement.

Pour plus d'informations sur le Park FX40 IR, visitez www.parksystems.com/en/products/research-afm/small-sample-afm/fx40-ir

À propos de Park Systems

Park Systems est un leader mondial dans le domaine de la nanométrologie, fournissant des solutions de mesure avancées pour la recherche et les applications industrielles. Créée par Sang-il Park, qui a contribué à l'invention de la microscopie à force atomique (AFM) à l'université de Stanford, l'entreprise s'est développée grâce à une innovation continue et à des acquisitions stratégiques pour devenir un acteur de premier plan dans l'industrie mondiale de la nanométrologie. Le portefeuille technologique de Park Systems comprend l'AFM, l'interférométrie en lumière blanche (WLI), la microscopie holographique numérique (DHM), l'ellipsométrie spectroscopique d'imagerie (ISE), les systèmes d'isolation active des vibrations et les sondes en métal solide. Avec des bureaux régionaux en Amérique, en Europe et en Asie, Park Systems soutient ses clients dans les domaines de la fabrication de semiconducteurs, de la science des matériaux et de la recherche en nanotechnologie.

Pour plus d'informations, consultez le site www.parksystems.com

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