Park Systems lanza NX1, microscopio AFM de máxima resolución para la obtención de imágenes a escala atómica
-Park Systems lanza NX1: El microscopio de fuerza atómica de máxima resolución para la obtención de imágenes a escala atómica en condiciones ambientales
GWACHEON, Corea del Sur, 1 de mayo de 2026 /PRNewswire/ -- Park Systems Corp., proveedor líder mundial de soluciones de microscopía de fuerza atómica (AFM), anunció hoy el lanzamiento del NX1, un microscopio de fuerza atómica compacto y de alto rendimiento que ofrece imágenes con resolución atómica en condiciones ambientales. Desarrollado en colaboración con el profesor Franz J. Giessibl de la Universidad de Regensburg, una de las máximas autoridades mundiales en AFM de resolución atómica, el NX1 pone al alcance de los laboratorios de investigación de todo el mundo un nivel de rendimiento de imagen que antes solo era posible en entornos de ultra alto vacío.
El NX1 se basa en Orpheus II, un prototipo desarrollado por el grupo del profesor Giessibl en Regensburg que demostró la posibilidad de obtener imágenes con resolución atómica en condiciones ambientales. Park Systems transformó este concepto en un producto comercial completamente desarrollado, combinando la arquitectura central probada de Orpheus II, que incluye un cuerpo de Kovar para una estabilidad térmica excepcional, con la fabricación de precisión, la fiabilidad de los productos y la experiencia global en ingeniería de AFM de Park Systems. El resultado es un instrumento que alcanza un nivel de ruido aproximadamente un orden de magnitud inferior al de los sistemas AFM convencionales, lo que hace que la obtención de imágenes a escala atómica sea accesible en entornos de laboratorio cotidianos.
"El NX1 es el resultado de combinar la investigación pionera del profesor Giessibl con la probada capacidad de Park Systems para llevar la ciencia más avanzada del mundo al mercado", declaró el Dr. Sang Joon Cho, vicepresidente ejecutivo y director de la Unidad de Negocio de Equipos de Investigación de Park Systems. "Juntos, hemos creado algo que ninguna de las partes podría haber logrado por sí sola: un instrumento verdaderamente fiable, con soporte técnico y accesible para investigadores de todo el mundo. Este es el tipo de plataforma que crea y da forma a nuevos mercados".
Diseñado para ofrecer rendimiento y facilidad de uso diario, el NX1 admite voladizos de silicio estándar, así como un sensor qPlus (diapasón de cuarzo) opcional, lo que permite amplitudes de oscilación a escala de picómetros y una alta sensibilidad a fuerzas de corto alcance. El cambio de sonda se simplifica mediante un sistema de portachips cinemático prealineado, y un microscopio óptico integrado en el eje proporciona una visión directa de la sonda y la muestra durante todo el funcionamiento. El sistema es totalmente compatible con el software operativo SmartScan™ y la plataforma de análisis de imágenes SmartAnalysis™ de Park Systems.
"Orpheus II demostró la viabilidad del concepto, pero era un instrumento de investigación, solo para expertos", afirmó el profesor Franz J. Giessibl, de la Universidad de Regensburg. "La experiencia de Park Systems fue fundamental para convertirlo en un producto fiable que la comunidad investigadora en general pudiera utilizar. El NX1 es lo que esta idea siempre tuvo el potencial de ser".
El NX1 ya está disponible para pedidos. Para obtener especificaciones técnicas y datos de aplicación, visite https://www.parksystems.com/en/products/research-afm/small-sample-afm/nx1 .
ACERCA DE PARK SYSTEMS
Park Systems es líder mundial en nanometrología y ofrece soluciones de medición avanzadas para investigación y aplicaciones industriales. Con oficinas regionales en América, Europa y Asia, la empresa brinda soporte a clientes en la fabricación de semiconductores, la ciencia de los materiales y la investigación en nanotecnología.
La cartera tecnológica de Park Systems incluye microscopía de fuerza atómica (AFM), elipsometría espectroscópica de imágenes, microscopía holográfica digital, interferometría de luz blanca y sistemas de aislamiento de vibraciones activas.
Fundada por el Dr. Sang-il Park, quien contribuyó a la invención de la AFM en la Universidad de Stanford, la empresa ha crecido gracias a la innovación continua y adquisiciones estratégicas, como Accurion GmbH y Lyncée Tec SA, hasta convertirse en un referente en la industria global de la nanometrología.
Para más información, visite www.parksystems.com
Foto - https://mma.prnewswire.com/media/2970016/Park_Systems_Founder_CEO.jpg
Foto - https://mma.prnewswire.com/media/2970017/Park_Systems_NX1_System.jpg
Logo - https://mma.prnewswire.com/media/490994/Park_Systems_Logo.jpg
Share this article