Park Systems lance le NX1 : L'AFM à la plus haute résolution pour l'imagerie à l'échelle atomique dans des conditions ambiantes
GWACHEON, Corée du Sud, 1er mai 2026 /PRNewswire/ -- Park Systems Corp., leader mondial des solutions de microscopie à force atomique (AFM), a annoncé aujourd'hui le lancement du NX1, un AFM compact et puissant qui offre une imagerie à résolution atomique dans des conditions ambiantes. Développé en collaboration avec le professeur Franz J. Giessibl de l'université de Ratisbonne, l'une des plus grandes autorités mondiales en matière d'AFM à résolution atomique, le NX1 met à la portée des laboratoires de recherche du monde entier une classe de performances d'imagerie jusqu'ici confinée aux environnements à ultravide.
Le NX1 est basé sur Orpheus II, un prototype développé par le groupe du professeur Giessibl à Ratisbonne qui a démontré que l'imagerie à résolution atomique dans des conditions ambiantes était réalisable. Park Systems a concrétisé ce concept en un produit commercial abouti, alliant l'architecture éprouvée de l'Orpheus II – notamment son boîtier en Kovar garantissant une stabilité thermique exceptionnelle – à la fabrication de précision, à la fiabilité des produits et à l'expertise internationale de Park Systems en matière d'ingénierie AFM. Il en résulte un instrument dont le bruit de fond est inférieur d'un ordre de grandeur à celui des systèmes AFM conventionnels, ce qui rend l'imagerie à l'échelle atomique accessible dans les laboratoires de tous les jours.
« Le NX1 est le résultat de la combinaison des recherches pionnières du professeur Giessibl et de la capacité éprouvée de Park Systems à mettre sur le marché la science la plus avancée du monde », a déclaré le Dr Sang-Joon Cho, vice-président exécutif et chef de la division des équipements de recherche chez Park Systems. « Ensemble, nous avons créé quelque chose qu'aucune des deux parties n'aurait pu réaliser seule : un outil véritablement fiable, facile à utiliser et accessible aux chercheurs du monde entier. C'est le genre de plateforme qui crée et façonne de nouveaux marchés. »
Conçu à la fois pour offrir des performances de pointe et pouvoir être utilisé au quotidien, le NX1 est compatible avec les cantilevers en silicium standard ainsi qu'avec un capteur qPlus (diapason à quartz) disponible en option, ce qui permet d'obtenir des amplitudes d'oscillation de l'ordre du picomètre et une grande sensibilité aux forces à courte portée. Le changement de sonde est simplifié grâce à un système de support de puce cinématique pré-aligné, et un microscope optique intégré sur l'axe permet de visualiser directement la sonde et l'échantillon tout au long de l'opération. Le système est entièrement compatible avec le logiciel d'exploitation SmartScan™ et la plateforme d'analyse d'images SmartAnalysis™ de Park Systems.
« Orpheus II a prouvé le concept, mais il s'agissait d'un instrument de recherche – réservé aux experts », a déclaré le professeur Franz J. Giessibl, de l'université de Regensburg. « L'expertise de Park Systems a été essentielle pour en faire un produit fiable utilisable par l'ensemble de la communauté scientifique. Le NX1 est ce que l'idée a toujours eu le potentiel de devenir. »
Le NX1 est désormais disponible à la commande. Pour les spécifications techniques et les données d'application, consultez le site https://www.parksystems.com/en/products/research-afm/small-sample-afm/nx1 .
À PROPOS DE PARK SYSTEMS
Park Systems est un leader mondial dans le domaine de la nanométrologie, fournissant des solutions de mesure avancées pour la recherche et les applications industrielles. Avec des bureaux régionaux en Amérique, en Europe et en Asie, l'entreprise soutient ses clients dans les domaines de la fabrication de semi-conducteurs, de la science des matériaux et de la recherche en nanotechnologie.
Son portefeuille technologique comprend la microscopie à force atomique (AFM), l'ellipsométrie spectroscopique d'imagerie, la microscopie holographique numérique, l'interférométrie en lumière blanche et les systèmes d'isolation active des vibrations.
Fondée par le Dr Sang-il Park, qui a contribué à l'invention de l'AFM à l'université de Stanford, l'entreprise s'est développée grâce à une innovation continue et à des acquisitions stratégiques, notamment Accurion GmbH et Lyncée Tec SA, pour devenir un chef de file de l'industrie mondiale de la nanométrologie.
Pour plus d'informations, consultez le site www.parksystems.com
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