Park Systems lanza Park FX40 IR, que combina el rendimiento de AFM y la espectroscopia IR a nanoescala
- Park Systems lanza Park FX40 IR, que combina el rendimiento completo de AFM y la espectroscopia IR a nanoescala en una única plataforma automatizada
GWACHEON, Corea del Sur, 2 de junio de 2026 /PRNewswire/ -- Park Systems Corp., líder mundial en soluciones de microscopía de fuerza atómica (AFM) y metrología a nanoescala, anunció hoy el lanzamiento comercial del Park FX40 IR, completando así su cartera de espectrómetros Nano-IR con una plataforma para muestras pequeñas. El FX40 IR permite a los investigadores obtener simultáneamente información química infrarroja a nanoescala y topografía superficial en muestras de hasta 20 mm × 20 mm, identificando la composición molecular con una resolución espacial inferior a 5 nm sin contacto con la superficie. El FX40 IR se suma al lanzamiento en 2025 de los modelos FX200 IR y FX300 IR, que llevaron la espectroscopía infrarroja de nanoescala a configuraciones de muestras grandes y de oblea completa, y extiende esta misma capacidad a la investigación con muestras pequeñas.
El FX40 IR se basa en el Park FX40, el primer microscopio AFM de grado de investigación totalmente automatizado del mundo, que integra robótica y automatización inteligente para gestionar cada paso de la medición, desde el intercambio de sondas y la alineación del haz hasta el acercamiento de la punta y la adquisición de imágenes. El FX40 ofrece un bajo nivel de ruido, una mínima deriva térmica y una mayor estabilidad mecánica gracias a su diseño mecánico FX superior, en el que el microscopio óptico está desacoplado de la platina Z para reducir la susceptibilidad a las perturbaciones mecánicas. El FX40 IR amplía esta plataforma con capacidad de espectroscopia infrarroja a nanoescala, lo que permite la adquisición simultánea de información química molecular y topografía de la superficie en una sola sesión de medición.
La caracterización química por IR a nanoescala en el espectrómetro FX40 IR se realiza mediante microscopía de fuerza fotoinducida (PiFM), que detecta la fuerza fotoinducida entre el voladizo del AFM y la muestra para mapear las vibraciones moleculares sin contacto con la superficie. Este método de detección sin contacto logra una resolución espacial inferior a 5 nm, superando el límite de difracción óptica de aproximadamente 10 µm de la espectroscopia infrarroja por transformada de Fourier (FT-IR) convencional y la resolución de 10 a 20 nm de las técnicas fototérmicas basadas en contacto, al tiempo que elimina el daño a la muestra y la contaminación de la punta inherentes a los métodos de contacto. Los espectros IR a nanoescala adquiridos por el FX40 IR muestran una estrecha concordancia con los resultados de FT-IR convencional en las posiciones de los picos y los perfiles de banda relativos, lo que proporciona un punto de referencia familiar para los investigadores con experiencia en la caracterización IR de materiales a granel.
"El FX40 IR no es simplemente un espectrómetro adicional, sino una plataforma AFM completa con capacidad IR a nanoescala totalmente integrada. Al completar la serie FX IR, nuestros clientes ahora pueden trabajar con la misma precisión, el mismo flujo de trabajo y el mismo nivel de automatización, ya sea que su muestra quepa en un portachips o abarque una oblea completa", afirmó el Dr. Sang-joon Cho, vicepresidente ejecutivo y director de la Unidad de Negocio de Equipos de Investigación de Park Systems.
Park Systems también presenta una ruta de adquisición por fases para el FX40 IR. Los laboratorios pueden adquirir el FX40 IR con una configuración actualizable: un AFM FX40 completamente funcional preconfigurado para la futura integración de IR, incluyendo la cabina acústica, y posteriormente agregar el módulo IR a medida que aumenten sus necesidades de análisis químico. Este enfoque permite a los grupos de investigación realizar una inversión inicial en un AFM automatizado de clase mundial y expandirse a la espectroscopia IR a nanoescala sin necesidad de reemplazo.
Para obtener más información sobre el Park FX40 IR, visite www.parksystems.com/en/products/research-afm/small-sample-afm/fx40-ir
Acerca de Park Systems
Park Systems es líder mundial en nanometrología y ofrece soluciones de medición avanzadas para aplicaciones industriales y de investigación. Fundada por el Dr. Sang-il Park, quien contribuyó a la invención de la microscopía de fuerza atómica (AFM) en la Universidad de Stanford, la empresa ha crecido gracias a la innovación continua y adquisiciones estratégicas, convirtiéndose en un referente en la industria global de la nanometrología. La cartera tecnológica de Park Systems incluye AFM, interferometría de luz blanca (WLI), microscopía holográfica digital (DHM), elipsometría espectroscópica de imágenes (ISE), sistemas de aislamiento de vibraciones activas y sondas de metal sólido. Con oficinas regionales en América, Europa y Asia, Park Systems proporciona soporte a clientes en la fabricación de semiconductores, la ciencia de los materiales y la investigación en nanotecnología.
Para más información, visite www.parksystems.com
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